에러 분포의 비대칭성을 활용한 대용량 3D NAND 플래시 메모리의 신뢰성 최적화 기법

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@article{6cdce9f0dd294be5981ae8ae09f3c88e,

title = "에러 분포의 비대칭성을 활용한 대용량 3D NAND 플래시 메모리의 신뢰성 최적화 기법",

author = "Myungsuk Kim",

year = "2023",

doi = "10.14372/IEMEK.2023.18.1.31",

language = "Korean",

volume = "18",

pages = "31",

journal = "대한임베디드공학회논문지",

}