Improved constraints on D0-D̄0 mixing in D0→K+π- Decays from the Belle detector

L. M. Zhang, Z. P. Zhang, J. Li, K. Abe, K. Abe, I. Adachi, H. Aihara, D. Anipko, K. Arinstein, Y. Asano, T. Aushev, S. Bahinipati, A. M. Bakich, V. Balagura, M. Barbero, A. Bay, I. Bedny, K. Belous, U. Bitenc, I. BizjakS. Blyth, A. Bondar, A. Bozek, M. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, M. C. Chang, P. Chang, Y. Chao, A. Chen, W. T. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, S. K. Choi, Y. Choi, Y. K. Choi, A. Chuvikov, S. Cole, J. Dalseno, M. Danilov, M. Dash, A. Drutskoy, S. Eidelman, N. Gabyshev, T. Gershon, A. Go, G. Gokhroo, B. Golob, A. Gorišek, H. C. Ha, J. Haba, T. Hara, N. C. Hastings, K. Hayasaka, H. Hayashii, M. Hazumi, Y. Hoshi, S. Hou, W. S. Hou, Y. B. Hsiung, T. Iijima, K. Ikado, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, M. Iwasaki, Y. Iwasaki, J. H. Kang, P. Kapusta, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, H. J. Kim, S. K. Kim, S. M. Kim, K. Kinoshita, S. Korpar, P. Križan, P. Krokovny, R. Kulasiri, R. Kumar, C. C. Kuo, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, G. Leder, J. Lee, T. Lesiak, S. W. Lin, D. Liventsev, F. Mandl, T. Matsumoto, Y. Mikami, W. Mitaroff, K. Miyabayashi, H. Miyake, H. Miyata, Y. Miyazaki, R. Mizuk, D. Mohapatra, T. Mori, M. Nakao, Z. Natkaniec, S. Nishida, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, W. Ostrowicz, H. Ozaki, C. W. Park, H. Park, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, Y. Sakai, N. Sato, N. Satoyama, T. Schietinger, O. Schneider, C. Schwanda, A. J. Schwartz, R. Seidl, K. Senyo, M. E. Sevior, M. Shapkin, H. Shibuya, B. Shwartz, J. B. Singh, A. Sokolov, A. Somov, N. Soni, R. Stamen, S. Stanič, M. Starič, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, S. Suzuki, F. Takasaki, K. Tamai, N. Tamura, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, X. C. Tian, K. Trabelsi, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, S. Uehara, T. Uglov, K. Ueno, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Usov, G. Varner, S. Villa, C. C. Wang, C. H. Wang, Y. Watanabe, E. Won, Q. L. Xie, B. D. Yabsley, A. Yamaguchi, M. Yamauchi, J. Ying, Y. Yuan, C. C. Zhang, J. Zhang, V. Zhilich, D. ZürcherShow 154 othersShow less