Measurement of the branching fraction and CP asymmetry in B⁰ → π⁰π⁰ decays, and an improved constraint on ϕ₂

T. Julius, M. E. Sevior, G. B. Mohanty, I. Adachi, H. Aihara, S. Al Said, D. M. Asner, V. Aulchenko, T. Aushev, R. Ayad, V. Babu, I. Badhrees, A. M. Bakich, V. Bansal, E. Barberio, M. Barrett, M. Berger, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, J. BiswalT. Bloomfield, A. Bobrov, A. Bondar, G. Bonvicini, A. Bozek, M. Bračko, T. E. Browder, D. Červenkov, M. C. Chang, Y. Chao, V. Chekelian, A. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, K. Cho, Y. Choi, D. Cinabro, N. Dash, S. Di Carlo, Z. Doležal, D. Dossett, Z. Drásal, D. Dutta, S. Eidelman, H. Farhat, J. E. Fast, T. Ferber, B. G. Fulsom, V. Gaur, N. Gabyshev, A. Garmash, R. Gillard, P. Goldenzweig, J. Haba, T. Hara, K. Hayasaka, H. Hayashii, W. S. Hou, C. L. Hsu, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, Y. Iwasaki, W. W. Jacobs, I. Jaegle, Y. Jin, D. Joffe, K. K. Joo, J. Kahn, G. Karyan, P. Katrenko, T. Kawasaki, C. Kiesling, D. Y. Kim, H. J. Kim, J. B. Kim, K. T. Kim, M. J. Kim, S. H. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, P. Kodyš, S. Korpar, D. Kotchetkov, P. Križan, P. Krokovny, J. F. Krohn, T. Kuhr, R. Kulasiri, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, I. S. Lee, C. H. Li, L. Li, Y. Li, L. Li Gioi, J. Libby, D. Liventsev, T. Luo, J. MacNaughton, M. Masuda, T. Matsuda, M. Merola, K. Miyabayashi, H. Miyata, R. Mizuk, H. K. Moon, T. Mori, R. Mussa, E. Nakano, M. Nakao, T. Nanut, K. J. Nath, Z. Natkaniec, M. Nayak, N. K. Nisar, S. Nishida, S. Ogawa, H. Ono, P. Pakhlov, G. Pakhlova, B. Pal, S. Pardi, C. S. Park, H. Park, L. Pesántez, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, C. Pulvermacher, M. Ritter, H. Sahoo, Y. Sakai, M. Salehi, S. Sandilya, L. Santelj, T. Sanuki, Y. Sato, V. Savinov, O. Schneider, G. Schnell, C. Schwanda, A. J. Schwartz, Y. Seino, K. Senyo, V. Shebalin, T. A. Shibata, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sokolov, E. Solovieva, M. Starič, T. Sumiyoshi, U. Tamponi, K. Tanida, F. Tenchini, K. Trabelsi, M. Uchida, S. Uehara, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Usov, C. Van Hulse, G. Varner, K. E. Varvell, A. Vossen, E. Waheed, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, E. Widmann, K. M. Williams, E. Won, Y. Yamashita, H. Ye, C. Z. Yuan, Y. Yusa, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, A. ZupancShow 166 othersShow less