Measurement of the CP-violation parameter sin 2φ₁ with a new tagging method at the Y(5S) resonance

Y. Sato, H. Yamamoto, H. Aihara, D. M. Asner, V. Aulchenko, T. Aushev, T. Aziz, A. M. Bakich, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, M. Bischofberger, A. Bondar, A. Bozek, M. Bračko, T. E. Browder, P. Chang, P. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, R. ChistovI. S. Cho, K. Cho, S. K. Choi, Y. Choi, J. Dalseno, Z. Doleal, Z. Drásal, S. Eidelman, D. Epifanov, J. E. Fast, V. Gaur, N. Gabyshev, Y. M. Goh, B. Golob, J. Haba, T. Hara, K. Hayasaka, H. Hayashii, Y. Horii, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. J. Hyun, A. Ishikawa, R. Itoh, M. Iwabuchi, Y. Iwasaki, T. Iwashita, T. Julius, P. Kapusta, T. Kawasaki, H. Kichimi, C. Kiesling, H. J. Kim, H. O. Kim, J. B. Kim, J. H. Kim, K. T. Kim, M. J. Kim, S. K. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, B. R. Ko, N. Kobayashi, P. Kody, S. Korpar, P. Krian, P. Krokovny, T. Kuhr, R. Kumar, T. Kumita, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, S. H. Lee, J. Li, Y. Li, C. Liu, Z. Q. Liu, R. Louvot, S. McOnie, K. Miyabayashi, H. Miyata, R. Mizuk, G. B. Mohanty, A. Moll, N. Muramatsu, E. Nakano, M. Nakao, H. Nakazawa, Z. Natkaniec, S. Nishida, K. Nishimura, O. Nitoh, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, S. L. Olsen, Y. Onuki, W. Ostrowicz, P. Pakhlov, G. Pakhlova, C. W. Park, H. Park, H. K. Park, T. K. Pedlar, M. Petrič, L. E. Piilonen, A. Poluektov, M. Röhrken, S. Ryu, H. Sahoo, Y. Sakai, T. Sanuki, O. Schneider, C. Schwanda, A. J. Schwartz, R. Seidl, K. Senyo, O. Seon, M. E. Sevior, M. Shapkin, C. P. Shen, T. A. Shibata, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, P. Smerkol, Y. S. Sohn, A. Sokolov, E. Solovieva, S. Stanič, M. Starič, J. Stypula, M. Sumihama, T. Sumiyoshi, S. Tanaka, G. Tatishvili, Y. Teramoto, K. Trabelsi, M. Uchida, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, G. Varner, K. E. Varvell, C. H. Wang, M. Z. Wang, P. Wang, X. L. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, J. Wicht, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamashita, Y. Yusa, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, A. ZupancShow 142 othersShow less